Počet záznamů: 1
Photoelectrons and infrared spectroscopy of semi-insulating silicon layers
- 1.0131956 - FZU-D 980053 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Trchová, M. - Zemek, Josef - Jurek, Karel
Photoelectrons and infrared spectroscopy of semi-insulating silicon layers.
Journal of Applied Physics. Roč. 82, č. 7 (1997), s. 3519-3527. ISSN 0021-8979. E-ISSN 1089-7550
Impakt faktor: 1.630, rok: 1997
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0029998
Počet záznamů: 1