Počet záznamů: 1  

Photoelectrons and infrared spectroscopy of semi-insulating silicon layers

  1. 1.
    0131956 - FZU-D 980053 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Trchová, M. - Zemek, Josef - Jurek, Karel
    Photoelectrons and infrared spectroscopy of semi-insulating silicon layers.
    Journal of Applied Physics. Roč. 82, č. 7 (1997), s. 3519-3527. ISSN 0021-8979. E-ISSN 1089-7550
    Impakt faktor: 1.630, rok: 1997
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0029998

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.