Počet záznamů: 1  

Carrier diffusion in porous silicon studied by transient laser-induced grating spectroscopy

  1. 1.
    0131885 - FZU-D 980323 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Tomasiunas, R. - Pelant, Ivan - Kočka, Jan - Knápek, Petr - Lévy, R. - Grun, J. B. - Honerlage, B.
    Carrier diffusion in porous silicon studied by transient laser-induced grating spectroscopy.
    Journal of Applied Physics. Roč. 79, - (1996), s. 2481-2486. ISSN 0021-8979. E-ISSN 1089-7550
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010528; GA ČR GA202/95/1445
    Grant ostatní: CT(XX) 27839
    Impakt faktor: 1.812, rok: 1996
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0029928

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.