Počet záznamů: 1  

Characterization of yttria-stabilized zirconia thin films deposited by electron beam evaporation on silicon substrates

  1. 1.
    0131561 - FZU-D 980618 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Hartmanová, M. - Thurzo, I. - Jergel, M. - Bartoš, J. - Kadlec, Filip - Železný, Vladimír - Tunega, D. - Kundracik, F. - Chromik, S. - Brunel, M.
    Characterization of yttria-stabilized zirconia thin films deposited by electron beam evaporation on silicon substrates.
    Journal of Materials Science. Roč. 33, - (1998), s. 969-975. ISSN 0022-2461. E-ISSN 1573-4803
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 0.632, rok: 1998
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0029620

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.