0131531 - FZU-D 980585 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Zemek, Josef - Lesiak, B. - Jozvik, A.
Phase distincion in semi/insulating polycrystalline silicon by pattern recognition of X-ray photoelactron spectroscopy/X-ray-induced auger electron spectoscopy data.
Applied Surface Science. Roč. 135, - (1998), s. 318-330. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.045, rok: 1998
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0000530