Počet záznamů: 1  

Phase distincion in semi/insulating polycrystalline silicon by pattern recognition of X-ray photoelactron spectroscopy/X-ray-induced auger electron spectoscopy data

  1. 1.
    0131531 - FZU-D 980585 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Zemek, Josef - Lesiak, B. - Jozvik, A.
    Phase distincion in semi/insulating polycrystalline silicon by pattern recognition of X-ray photoelactron spectroscopy/X-ray-induced auger electron spectoscopy data.
    Applied Surface Science. Roč. 135, - (1998), s. 318-330. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.045, rok: 1998
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0000530

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.