Počet záznamů: 1  

Time-resolved reflectivity studies of phase transitioin in polycrystalline Si induced by excimer laser irradiation

  1. 1.
    0131257 - FZU-D 970371 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Ulrych, Ivo - Chvoj, Zdeněk - Cháb, Vladimír - Černík, M. - Přikryl, Petr - Černý, R. - El Kader, K. M. A.
    Time-resolved reflectivity studies of phase transitioin in polycrystalline Si induced by excimer laser irradiation.
    3-908450-19-5. In: Polycrystalline Semiconductors. Zug: Trans. Tech. Publ., 1996 - (Pizzini, S.; Strunk, H.; Werner, J.), s. 173-181. Solid State Phenomena., V.
    [Polyse 95. Cargnano (IT), 09.09.1995-14.09.1995]
    Grant CEP: GA ČR GA202/94/1801; GA AV ČR IAA110433; GA MŠMT OK 148
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0029334

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.