Počet záznamů: 1  

Precise measurement of the deep defects and surface states in a-Si:H films by absolute CPM

  1. 1.
    0130987 - FZU-D 960340 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Fejfar, Antonín - Poruba, Aleš - Vaněček, Milan - Kočka, Jan
    Precise measurement of the deep defects and surface states in a-Si:H films by absolute CPM.
    Journal of Non-Crystalline Solids. 198-200, - (1996), s. 304-308. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010528
    Grant ostatní: PECO(XE) 3029
    Impakt faktor: 1.318, rok: 1996
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0029087

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.