0105934 - URE-Y 20040170 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Czajka, R. - Suto, S. - Winiarz, S. - Vaniš, Jan - Walachová, Jarmila - Shiwa, A. - Nagashima, H. - Szuba, S. - Kasuya, A.
VT STM investigations of Ag film growth on Bi₂Te₃
[VT STM zkoumání Ag vrstvy narostené na Bi₂Te₃]
STM'2003 - 12th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques. New York: American Institute of Physics, 2003 - (Koenraad, P.; Kemerink, M.), s. 853-858. AIP Confrence Proceedings, 696 (1). ISBN 0-7354-0168-3.
[STM'2003 Scanning Tunneling Mircoscopy/Spectroscopy and Related Techniques /12./. Eindhoven (NL), 21.07.2003-25.07.2003]
Grant CEP: GA ČR GA202/02/0098
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
Klíčová slova: scanning tunneling microscopy * thermoelectrics
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

We carried out STM/STS studies of Ag structures grown on Bi₂Te₃ surface at different temperatures. We got images of surface of the substrate, which shoved a layered structure with many monoatomic terraces. We observed different I-V characteristics and contrast on CITS maps. The dI/dV curves were compared with theoretically calculated DOS of Bi p and Te-1 p orbitals. The diameters and densities of Ag clusters deposited on the Bi₂Te₃ substrate were dependent on the substrate temperature.

Je prezentována STM/STS studie Ag struktur narostených na povrchu Bi2Te3, tvořeným mnoha monoatomickými terasami, při různých teplotách. Průměr a hustota narostených Ag klastrů jsou závislé na teplotě Bi2Te3 substrátu. Na vzorku jsou naměřeny ruzné I-V charakteristiky a kontrast na CITS mapách. Křivky dI/dV jsou porovnány s teoreticky vypočtenou hustotou stavů Bi p a Te-1 p orbitalů.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0013122