Počet záznamů: 1
Characterization of Ag-As-S and Ag-Sb-S amorphous films prepared by pulsed laser deposition
- 1.0105578 - UJF-V 20043120 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Wágner, T. - Krbal, M. - Gutwirth, J. - NÄmec, P. - VlÄek, M. - Frumar, M. - PeÅina, Vratislav - Macková, Anna - Hnatowicz, VladimÃr - Kasap, S. O.
Characterization of Ag-As-S and Ag-Sb-S amorphous films prepared by pulsed laser deposition.
[Characterizace Ag-As-S a Ag-Sb-S amorfnÃch vrstev pÅipravených pomocà pulsnà laserové depozice.]
Surface and Interface Analysis. RoÄ. 36, Ä. 8 (2004), s. 1140-1143. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant CEP: GA ÄR GA203/02/0087
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1048901
Klíčová slova: chalcogenide glasses * thin films * pulsed laser ablation
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Impakt faktor: 1.209, rok: 2004
Thin amorphous films of Ag-As-S and Ag-Sb-S systems have been prepared by pulsed laser deposition (PLD) at five different conditions, i.e. at different pulse energies and pulse repetition intervals of the KrF laser. The obtained films were analysed by RBS, ERDA (elastic recoil detection analysis) spectral analysis and also EDXA elemental analysis. The results of RBS and EDXA analysis were compared to the composition of the source bulk glass materials. Film compositions varied compared to the source material according to the deposition condition with film composition close to the stoichiometric one, i.e. AgAsS2 and AgSbS2 could be prepared by the PLD technique. RBS spectroscopy is known as an important tool for establishing depth distribution of the elements within the prepared films. The thickness of the films was chosen so that depth profiling of the entire layer is possible. ERDA allowed us to find, apart from all obvious atoms (Ag, As, Sb, S), also H atoms present in the films. The structure of the films has been studied by Raman spectroscopy as well. Vibration bands characteristic of As(Sb)S-2-Ag-As(Sb)S-2 structural units present in prepared films have been observed. The films are potentially applicable for optical memories (e.g. digital video discs).
Tenké amorfnà vrstvy systémů Ag-As-S a Ag-Sb-S byly pÅipraveny pulsnà laserovou depozicà (PLD) ze pÄti různých podmÃnek KrF laseru, tj. energià pulsů a opakovacÃch frekvencÃ. PÅipravené vrstvy byly analyzovány pomocà RBS, ERDA a EDXA metod prvkových analýz. Jejich výsledky byly srovnány se složenÃm výchozÃch materiálů. Složenà se mÄnila ve srovnánà s výchozÃmi materiály v souhlase s depoziÄnÃmi podmÃnkami blÃzko stechiometrickým pomÄrům. To znamená že vrstvy AgAsS2 a AgSbS2 mohou být pÅipraveny pomocà PLD. RBS metoda je jedineÄná ke stanovenà hloubkového rozloženà prvků v pÅipravených vrstvách. TloÅ¡tka vrstev byla zvolena s ohledem na možnost zjiÅ¡tÄnà prvkových profilů v celé vrstvÄ. ERDA navÃc ke stavebnÃm prvkům (Ag, As, Sb, S) umožÅuje sledovánà obsahu vodÃku. Struktura vrstev byla též sledována pomocà Ramanovské spektroskopie. Byly pozorovány vibraÄnà pásy charakterizujÃcà As(Sb)S-2-Ag-As(Sb)S-2 stavebnà jednotky. OÄekáváme aplikaci vrstev pro optické pamÄti (digitálnà video disky).
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0012815
Počet záznamů: 1