0104226 - FZU-D 20040568 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Zemek, Josef - Jiříček, Petr - Lesiak, B. - Jablonski, A.
Surface excitations in electron backscattering from silicon surfaces.
[Vliv povrchových excitací na pružný odraz elektronů od povrchu křemíku.]
Surface Science. Roč. 562, - (2004), s. 92-100. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
Grant CEP: GA ČR GA202/02/0237
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: electron-solid interactions * electron-solid scattering and transmission-elastic * electron-solid scattering and transmission-inelastic * Monte Carlo simulation * electron bombardment * silicon
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.168, rok: 2004

The surface excitation corrections are applied on measured electron backscattering probabilities from silicon surface with respect to copper and gold standards. Corrected peak areas are finally used for evaluating of inelastic mean free paths for silicon, and compared with the available literature data.

Povrchové neelastické excitace, které budí elektrony při průchodu povrchem, podstatně ovlivnují výtěžek fotoelektronů a Augerových elektronů. V práci je popsána jednoduchá metoda korekce na tyto neelastické procesy. Korigovaná data zpřesnují kvantitativní analýzu povrchu.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0011503