0101792 - FZU-D 20040469 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Ryc, L. - Borowiecki, M. - Ivanova-Stanik, I. - Kaczmarczyk, J. - Paduch, M. - Scholz, M. - Tomaszewski, K. - Krása, Josef - Kravárik, J. - Kubeš, P.
Measurement of high x-rays doses from PF1000 plasma focus using Si p-i-n detectors.
[Měření vysokých dávek RTG záření emitovaného z plazmového fokusu PF1000 pomocí Si p-i-n detektorů.]
Czechoslovak Journal of Physics. Roč. 54, Suppl. C (2004), s. C326-C333. ISSN 0011-4626.
[Symposium on Plasma Physics and Technology /21./. Praha, 14.06.2004-17.06.2004]
Grant CEP: GA AV ČR KSK2043105
Klíčová slova: Plasma Focus * x-rays * semiconductor detector
Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
Impakt faktor: 0.292, rok: 2004

A thick silicon p-i-n detector of special design has been applied for measurement of medium-hardness x-rays (10 - 30 keV) from the 1MJ PF1000 Plasma Focus Facility in Warsaw

Křemíkový p-i-n detektor speciální konstrukce byl použit pro měření středně tvrdého RTG záření (10 až 30 keV) generovaného zařízením 1MJ plazmový fokus PF1000, které se nachází v IPPLM, Varšava
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0000070