0101040 - UFCH-W 20040032 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Brabec, Libor - Kočiřík, Milan
Polycrystalline Wafers of Silicalite-1 etched by HF Acid and Viewed by SEM.
[Polykrystalické vrstvy silikalitu-1 leptané kyselinou fluorovodíkovou a zobrazované elektronovým mikroskopem.]
Applied Surface Science. Roč. 228, č. 1 (2004), s. 1-4. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA ČR GA104/01/0945; GA AV ČR IAA1040101
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z4040901
Klíčová slova: HF etching * grain boundaries visualization * carbon residue
Kód oboru RIV: CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
Impakt faktor: 1.497, rok: 2004

HF etching of polycrystalline silicalite-1 wafers enables to visualize grain boundaries of non-calcined crystals by dissolution of a phase between individual crystals as well as to reveal resistant shells of calcined crystals by dissolution of a crystal bulk.

Leptání polykrystalických vrstev pomocí HF umožňuje zviditelnit hranice zrn. V případě nekalcinovaných krystalů dochází k rozpouštění mezikrystalové fáze, v případě krystalů kalcinovaných se ukazuje, že se rozpouštějí vnitřky krystalů, zatímco jejich slupky odolávají.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0000025