0100129 - FZU-D 20040109 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Pavlíček, Pavel - Soubusta, Jan
Measurement of the influence of dispersion on white-light interferometry.
[Měření vlivu disperze na interferometrii v bílém světle.]
Applied Optics. Roč. 43, č. 4 (2004), s. 766-770. ISSN 0003-6935
Grant CEP: GA MŠMT LN00A015
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: white-light interferometry * height profile * smooth surface
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.799, rok: 2004

White-light interferometry is well-established method for measuring the height profiles of samples with rough as well as with smooth surfaces. Because white interferometry uses brodband light sources, the problem of dispersion arisec. Because the optical paths in the two interferometer arms cannot be balanced for all wavelengths, the white-light correligram is distorted, which interferes with its evaluation. Calculated values are compared with experimental results

Interferometrie v bílém světle je osvědčená metoda pro měření výškového profilu předmětu s jak drsným tak i hladkým povrchem. Protože interferometrie v bílém světle používá širokopásmové zdroje světla, vznikají problémy s disperzí. V případě přítomnosti disperze není možné vyvážit optické dráhy v obou ramenech interferometru pro všechny vlnové délky, což způsobuje deformaci korelogramu a ztěžuje jeho vyhodnocení. Vypočítané hodnoty jsou srovnány s experimentálními výsledky
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0007635