Počet záznamů: 1  

Metrological properties of moiré topography

  1. 1.
    0100117 - FZU-D 20040097 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Rössler, T. - Hrabovský, Miroslav
    Metrological properties of moiré topography.
    [Metrologické vlastnosti moiré topografie.]
    Wave and Qantum Aspects of Contemporary Optics. Washington: SPIE The International Society for Optical Engineering, 2003 - (Zajac, M.; Masajada, J.), s. 177-185. SPIE - The International Society for Optical Engineering., 5259. ISBN 0-8194-5146-0. ISSN 0277-786X.
    [Polish-Czech-Slovak Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics /13./. Krzyzowa (PL), 09.09.2002-13.09.2002]
    Grant CEP: GA MŠk LN00A015
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
    Klíčová slova: projection moiré topography * mesurement model * accuracy * sensitivity * resolution * range
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery

    Topography is a method giving a contour map as result of measurement describing three-dimensional shape of measured objects. The paper is focused to projection moiré topography. The measurement model is compiled at first of all

    Topografie je metoda, jejímž výsledkem je vrstevnicová mapa, popisující trojrozměrný tvar měřeného objektu. Článek je zaměřen na projekční moiré topografii. Nejdříve je vytvořen model měření
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0007623

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.