Počet záznamů: 1
Metrological properties of moiré topography
- 1.0100117 - FZU-D 20040097 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Rössler, T. - Hrabovský, Miroslav
Metrological properties of moiré topography.
[Metrologické vlastnosti moiré topografie.]
Wave and Qantum Aspects of Contemporary Optics. Washington: SPIE The International Society for Optical Engineering, 2003 - (Zajac, M.; Masajada, J.), s. 177-185. SPIE - The International Society for Optical Engineering., 5259. ISBN 0-8194-5146-0. ISSN 0277-786X.
[Polish-Czech-Slovak Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics /13./. Krzyzowa (PL), 09.09.2002-13.09.2002]
Grant CEP: GA MŠMT LN00A015
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: projection moiré topography * mesurement model * accuracy * sensitivity * resolution * range
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Topography is a method giving a contour map as result of measurement describing three-dimensional shape of measured objects. The paper is focused to projection moiré topography. The measurement model is compiled at first of all
Topografie je metoda, jejímž výsledkem je vrstevnicová mapa, popisující trojrozměrný tvar měřeného objektu. Článek je zaměřen na projekční moiré topografii. Nejdříve je vytvořen model měření
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0007623
Počet záznamů: 1