0100054 - FZU-D 20040030 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Horváth, Pavel - Šmíd, Petr - Hrabovský, Miroslav
Analysis of stress measurement by means of a speckle decorrelation.
[Analýza měření napětí pomocí dekorelace polí koherenční zrnitosti.]
Surface Scattering and Diffraction III. Washington: SPIE The International Society for Optical Engineering, 2003 - (Gu, Z.; Maradudin, A.), s. 174-181. Proceedings of SPIE, 5189. ISBN 0-8194-5062-6. ISSN 0277-786X.
[International Conference on Surface Scattering and Diffraction III. San Diego, California (US), 03.08.2003-08.08.2003]
Grant CEP: GA MŠMT LN00A015
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: speckle * decorrelation * small deformation * speckle strain gauge
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery

The paper analyzes stress measurement by means of the method so-called speckle pattern decorrelation. This relatively new and easy realizable method for the non-contact measurement of the small deformation tensor components of an elementary area of the object surface using the statistical properties of speckle field was firstly studied by I. Yamaguchi and later be the authors of this paper, too

Článek analyzuje měření napětí na povrchu předmětu pomocí metody dekorelace polí koherenční zrnitosti. Tato relativně nová a snadno realizovatelná metoda bezkontaktního měření složek tenzoru malé deformace elementární plošky povrchu zkoumaného předmětu využívající statistických vlastností polí koherenční zrnitosti byla poprvé popsána I. Yamaguchim
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0007561