0100024 - UPT-D 20040024 RIV DE ger C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Králík, Tomáš - Hanzelka, Pavel - Musilová, Věra - Srnka, Aleš - Haberstroh, C.
Messen von Emissivitäten bei kryogenen Temperaturen.
[Measurement of thermal emissivity by cryogenic temperatures.]
DKV Tagungsbericht 2003. Bonn: Deutscher Kalte und Klimatechnischer Verein e.V, 2003, s. 63-71. ISBN 3-932715-35-7.
[DKV Tagung 2003 Deutsche Kälte-Klima-Tagung. Bonn (DE), 19.11.2003-21.11.2003]
Grant CEP: GA AV ČR IBS2065109
Klíčová slova: thermal emissivity * measurement * cryogen
Kód oboru RIV: BJ - Termodynamika

Der durch Strahlung hervorgerufene Wärmestrom ist gerade in der Kryotechnik einer der wesentlichen Wärmeübertragungsmechanismen. Entscheidenden Einfluss hat hier der Emissionskoeffizient der gegenüberliegenden Oberflächen. Leider ist dieser Koeffizient oft nur ungenau bekannt. Zur Bestimmung der Emissionskoeffizienten bei tiefen Temperaturen bieten sich kaloriemetrische Messmethoden an. Im vorliegenden Beitrag wird ein entsprechender Apparat beschrieben, der im Rahmen einer Dissertation am ISI ASCR (Academy of Sciences of the Czech Republic) entwickelt wurde. Dieser Apparat erlaubt eine schnelle Bestimmung der Emissionskoeffizienten der Probeflächen. Die zu messende Oberfläche kann als Strahler mit der Temperatur 20 K - 150 K oder als Absorber, der auf einer Temperatur von 5 K bis 10 K gehalten wird, verwendet werden. Die gegenüberliegende Fläche ist einem hochabsorbierenden Überzug beschichtet

Thermal radiation s one of the significant mechanisms of the heat transfer in cryogenics. The knowledge of the mutual emissivity of two parallel surfaces is very important for the estimation of the heat transport. Unfortunately, the emissivities of the surfaces are not well known in many cases. The usage of the known emissivities is limited because they are dependent on the surface treatment. Further, the emissivities are dependent on the temperatures of the absorbing and radiating surfaces. Very little data exist about this dependency. In the described device, the emissivity is estimated by substitution of the radiated heat flow by thermal output of a heater. Fast measurements of the mutual emissivity for the range of the temperature of the radiating surface 25 K 150 K are possible. The absorbing surface has temperature between 5 K and 10 K. The desired measurements precisions are ±1 mK for the relative temperatures and 0,1 µW for heat power respectively. The diameter of the whole device is 50 mm and so it is possible to use a commercial dewar can for the cooling. The emissivity and its temperature dependency for various surface treatments can be checked immediately before application in a cryogenic system.

Tok tepla zářením je v kryotechnice jedním z významných mechanismů přenosu tepla zářením. Na tento přenos má rozhodující vliv emisivita protilehlých povrchů. Její hodnota však nebývá známa s dostatečnou přesností. Ke stanovení emisivity za nízkých teplot se nabízí využití kalorimetrických metod. V příspěvku je popsáno zařízení, které bylo vyvinuto v rámci disertační práce na ÚPT AV ČR. Zařízení umožňuje rychlé stanovení emisivity měřeného povrchu. Měřený povrch lze použít jako zářič při teplotách 20 K - 150 K nebo jako přijímač s teplotou 5 K - 10 K. Protilehlý povrch je pokryt vrstvou s vysokou absorptivitou
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0007531