Počet záznamů: 1  

Laser tests of silicon detectors

  1. 1.
    0081154 - URE-Y 2007 NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Doležal, Z. - Escobar, C. - Gadomski, S. - Garcia, C. - Gonzales, S. - Kodyš, Peter - Kubík, P. - Lacasta, C. - Marti, S. - Mitsou, V. A. - Moorhead, G. F. - Phillips, P. W. - Řezníček, P. - Slavík, Radan
    Laser tests of silicon detectors.
    [Testy křemíkových detektorů laserovým zářením.]
    Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 573, 1/2 (2007), s. 12-15. ISSN 0168-9002.
    [International Conference on Position-Sensitive Detectors - PSD /7./. Liverpool, 12.09.2005-16.09.2005]
    Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KJB200670601
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
    Klíčová slova: semiconductor devices
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 1.114, rok: 2007

    This paper collects experiences from the development of a silicon sensor laser testing setup and from tests of silicon strip modules (ATLAS End-cap SCT), pixel modules (DEPFET) and large-area diodes using semiconductor lasers.

    Tento článek shrnuje výsledky vývoje křemíkových detektorů pořízených pomocí laserového záření. Jde o páskové moduly (ATLAS End-cap SCT), pixelové moduly (DEPFET) a moduly s velkým povrchem.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0145113