0028561 - FZÚ 2006 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Rezek, Bohuslav - Nebel, C. E. - Stutzmann, M.
Hydrogenated diamond surfaces studied by atomic and Kelvin force microscopy.
[Hydrogenované diamantové povrchy studované pomocí mikroskopie atomární a kelvinovy síly.]
Diamond and Related Materials. Roč. 13, - (2004), s. 740-745. ISSN 0925-9635. E-ISSN 1879-0062
GRANT EU: European Commission(XE) HPRN-CT-1999-00139
Grant ostatní: deutsche Forschungsgemenschaft(DE) NE524-2
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: diamond crystal * surface microscopy * surface electronic properties * oxidation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.670, rok: 2004

Atomic force (AFM) and Kelvin force (KFM) are employed to characterize and modify both morfologic and electronic properties of (100) hydrogenated diamond surface with high lateral resolution

Mikroskopie atomární (AFM) a Kelvinovy síly (KFM) je použita k charakterizaci a modifikaci jak morfologických, tak elektronických vlastností hydrogenového povrchu (100) s vysokým laterálním rizlišením
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0118489