Počet záznamů: 1
Novel technologies for light-weight X-ray optics. Shaping of advanced glass and Si-wafer X-ray optics
- 1.0027189 - ÚFP 2006 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hudec, R. - Pína, L. - Inneman, A. - Semencová, V. - Brožek, Vlastimil - Míka, M.
Novel technologies for light-weight X-ray optics. Shaping of advanced glass and Si-wafer X-ray optics.
[Nové technologie pro ultralehkou rentgenovou optiku.]
XEUS Consortium Meeting. Garching: Garching, 2005, -.
[XEUS Consortium Meeting. Garching (DE), 30.05.2005-31.05.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20430508
Klíčová slova: Si mirrors * light-weight X-ray optics
Kód oboru RIV: JG - Hutnictví, kovové materiály
Samples of test X-ray mirrors have been produced. Shaped thin glass and Si mirrors have been succesfully formed using novel creep-deformation technologies . Results of measurements on float glass samples formed at different temperatures shows the dependence of the slope deviation on the temperature. The slope deviations from the ideal profile strongly depends on forming temperature and can be less than 1 mic. Both approaches show promising results justifying further efforts in these directions.
Byly připraveny a testovány vzorky rentgenovských zrcadel. Tvarovaná tenkostěnná skleněná nebo křemíková zrcadla byla připravena novou technologií creepové deformace. Výsledky měření na skleněných vzorcích ukazují závislost průhybu zrcadel na teplotě formování, odchylky od ideálního profilu jsou menší než 1 mikrometr.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0117311
Počet záznamů: 1