0024639 - ÚFM 2006 RIV CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Náhlík, Luboš - Bareš, Pavel
Určení prahových hodnot součástí s ochrannými povlaky.
[Determination of threshold values of components with protective layers.]
Problémy lomové mechaniky /5./. Brno: VUT v Brně, 2005 - (Frantík, P.; Náhlík, L.), s. 49-53. ISBN 80-214-2854-6.
[Problémy lomové mechaniky /5./. Brno (CZ), 22.06.2005]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GP106/04/P084; GA ČR(CZ) GA101/05/0320
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: protective layer * threshold value * crack opening displacement
Kód oboru RIV: JL - Únava materiálu a lomová mechanika

Práce je zaměřena na určení vlivu únavových trhlin nacházejících se v ochranných povlacích na životnost součástí s těmito povlaky. Problém je řešen za podmínek platnosti lineární elastické lomové mechaniky a nezbytné numerické výpočty byly provedeny za pomoci metody konečných prvků. Je ukázáno, že v případě použití tvrdého ochranného povlaku na poddajnějším materiálu substrátu představuje trhlina nacházející se v povlaku a mající vrchol na rozhraní mezi povlakem a substrátem nebezpečný singulární koncentrátor napětí, protože v tomto případě klesá prahová hodnota aplikovaného zatížení, při které dochází k šíření únavové trhliny přes bi-materiálové rozhraní. Odhady životnosti potahovaných součástí neuvažující zmíněný fakt mohou vést k často nekonzervativním hodnotám a být tak příčinou neočekávaného poškození součástí s ochrannými povlaky

The contribution is focused on the influence of existing fatigue cracks in protective layers on fatigue life of structures with protective layers. The problem is solved under conditions of linear elastic fracture mechanics with help of finite element method. Is shown, that in the case of the hard protective layer on the ductile substrate represents existing crack with its tip on the bi-material interface dangerous singular stress concentrator, because of decrease of threshold values of applied loading necessary for crack propagation. Knowledge of crack propagation in protective film is of paramount importance when studying potential failure of the substrate.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0115149