Počet záznamů: 1
On-the-fly fast X-ray tomography using a CdTe pixelated detector – application in mechanical testing
- 1.
SYSNO 0494940 Název On-the-fly fast X-ray tomography using a CdTe pixelated detector – application in mechanical testing Tvůrce(i) Kumpová, Ivana (UTAM-F) RID, SAI, ORCID
Vopálenský, Michal (UTAM-F) RID, ORCID, SAI
Fíla, Tomáš (UTAM-F) RID, SAI, ORCID
Kytýř, Daniel (UTAM-F) SAI, RID, ORCID
Vavřík, Daniel (UTAM-F) RID, SAI, ORCID
Pichotka, Martin (UTAM-F)
Jakůbek, Jan (UTAM-F)
Keršner, Z. (CZ)
Klon, J. (CZ)
Seitl, S. (CZ)
Sobek, J. (CZ)Korespondující/senior Kumpová, Ivana - Korespondující autor Zdroj.dok. IEEE Transactions on Nuclear Science. Roč. 65, č. 12 (2018), s. 2870-2876. - : Institute of Electrical and Electronics Engineers Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant EF16_019/0000766 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika Institucionální podpora UTAM-F - RVO:68378297 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova cadmium telluride (CdTe) detectors * fracture mechanics * material characterization * mechanical testing Spolupracující instituce Vysoké učení technické v Brně. Fakulta stavební (Česká republika)
České vysoké učení technické v Praze, Ústav technické a experimentální fyziky (Česká republika)URL https://ieeexplore.ieee.org/document/8482343 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0288021
Počet záznamů: 1