Počet záznamů: 1
Effect of dust contamination on GaN/InGaN multiple quantum well growth morphology
- 1.
SYSNO ASEP 0496161 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV O - Ostatní Název Effect of dust contamination on GaN/InGaN multiple quantum well growth morphology Tvůrce(i) Kuldová, Karla (FZU-D) RID, ORCID
Kretková, Tereza (FZU-D)
Novotný, Radek (FZU-D)
Dominec, Filip (FZU-D) RID, ORCID
Hájek, František (FZU-D) ORCID
Pangrác, Jiří (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Hospodková, Alice (FZU-D) RID, ORCID, SAICelkový počet autorů 7 Zdroj.dok. Proceedings of the International Symposium on Growth of III-Nitrides ISGN-7. - : University of Warsaw, 2018
S. 152-152Poč.str. 1 s. Akce International Symposium on Growth of III-Nitrides ISGN-7 Datum konání 05.08.2018 - 10.08.2018 Místo konání Warsaw Země PL - Polsko Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. PL - Polsko Klíč. slova InGaN/GaN ; EDX ; cathodoluminescence Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus Obor OECD Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.) CEP LO1603 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Anotace We report about macroscopic defects from InGaN/GaN multiple quantum well structures caused by unintended contamination of dust particles during the metalorganic vapour phase epitaxy. These structures are developed for use as fast scintillators and detectors of ionizing radiation, where extremely low intensity of excitation should be expected, and thus high demands on cleanliness must be required. On some of our samples, we found defects hundreds of μm in size with different types of changes in their epitaxial morphology and with different modifications in their physical properties. Using EDX in an electron microscope, particles of different elemental composition (e.g. Fe, Cr, Ni, Ca, Si) have been identified in the centre of the defects. We will present cathodoluminescence, PL and Raman spectra in surroundings of different defects and discuss the influence of the contamination.
Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2019
Počet záznamů: 1