Počet záznamů: 1  

Determination of Roughness Factor and Fractal Dimension of Zirconium in its Native and Surface Modified State using Atomic Force Microscopy. Effect of the Hydrogen Evolution Reaction on the Surface Structure

  1. 1.
    SYSNO ASEP0490032
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevDetermination of Roughness Factor and Fractal Dimension of Zirconium in its Native and Surface Modified State using Atomic Force Microscopy. Effect of the Hydrogen Evolution Reaction on the Surface Structure
    Tvůrce(i) Novák, M. (CZ)
    Kocábová, Jana (UFCH-W) RID
    Kolivoška, Viliam (UFCH-W) RID, ORCID
    Pospíšil, Lubomír (UFCH-W) RID, ORCID
    Macák, J. (CZ)
    Cichoň, Stanislav (FZU-D) RID, ORCID
    Cháb, Vladimír (FZU-D) RID, ORCID
    Hromadová, Magdaléna (UFCH-W) RID, ORCID, SAI
    Zdroj.dok.XXXVIII. Moderní elektrochemické metody. Sborník přednášek. - Ústí nad Labem : Best Servis, 2018 / Navrátil T. ; Fojta M. ; Schwarzová K. - ISBN 978-80-905221-6-9
    Rozsah strans. 173-177
    Poč.str.5 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    AkceModerní elektrochemické metody /38./
    Datum konání21.05.2018 - 25.05.2018
    Místo konáníJetřichovice
    ZeměCZ - Česká republika
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CZ - Česká republika
    Klíč. slovazirconium electrode ; atomic force microscopy ; fractal dimension
    Vědní obor RIVCG - Elektrochemie
    Obor OECDElectrochemistry (dry cells, batteries, fuel cells, corrosion metals, electrolysis)
    Vědní obor RIV – spolupráceFyzikální ústav - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEPGA16-03085S GA ČR - Grantová agentura ČR
    Institucionální podporaUFCH-W - RVO:61388955 ; FZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000464596500039
    AnotaceAtomic force microscopy (AFM) was used to characterize surface morphology of pristine zirconium, Si modified and FeSi modified zirconium electrodes prior and after hydrogen evolution at potentials negative of the open circuit potential value. Two main characteristic parameters were obtained from the ex situ AFM height images, namely, the roughness factor and fractal dimension of the studied surface. The effect of hydrogen evolution reaction on the electrode surface morphology was discussed. Fractal dimension values were used successfully to explain the non ideality of the interfacial capacitance.
    PracovištěÚstav fyzikální chemie J.Heyrovského
    KontaktMichaela Knapová, michaela.knapova@jh-inst.cas.cz, Tel.: 266 053 196
    Rok sběru2020
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.