Počet záznamů: 1  

Influence of passivation coating on AlGaN/GaN heterostructure during the diamond CVD

  1. 1.
    SYSNO ASEP0483209
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevInfluence of passivation coating on AlGaN/GaN heterostructure during the diamond CVD
    Tvůrce(i) Babchenko, O. (SK)
    Vanko, G. (SK)
    Lalinský, T. (SK)
    Huran, J. (SK)
    Haščík, Š. (SK)
    Artemenko, Anna (FZU-D) RID, ORCID
    Ižák, Tibor (FZU-D) RID
    Kromka, Alexander (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Vincze, A. (SK)
    Marton, M. (SK)
    Vojs, M. (SK)
    Celkový počet autorů11
    Zdroj.dok.Extended Abstract Book of international conference Progress in Applied Surface - SURFINT-SREN V. - Bratislava : Comenius University, 2017 / Pinčík E. - ISBN 978-80-2234411-1
    Rozsah strans. 13-14
    Poč.str.2 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    AkceProgress in Applied Surface, Interface and Thin Film Science 2017
    Datum konání20.11.2017 - 23.11.2017
    Místo konáníFlorence
    ZeměIT - Itálie
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.SK - Slovensko
    Klíč. slovadiamond ; AlGaN/GaN heterostructures ; XPS ; SIMS
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Obor OECDCondensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    CEPGBP108/12/G108 GA ČR - Grantová agentura ČR
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    AnotaceIn this study, we use electronic structures (circular patterns for transition line measurements and high electron mobility transistors) fabricated on AlGaN/GaN heterostructure. The bare samples and samples passivated by thin (30 nm) SiOx, SiNx and SiC coatings were tested. We used high temperature stable Ir/Al multilayer Schottky metallization for gate contact. Diamond films were grown by selective area deposition from CH4/H2 gas mixture using MWCVD at 500°C. The SEM found that any of used protective coating was able to withstand mutual acting of hydrogen and high temperature during diamond deposition process with 100% effectivity. Nevertheless, even bare sample do not demonstrate so severe surface damage as was reported before. The X-ray photoelectron spectroscopy show high level of surface contamination after diamond deposition in particular by carbon while the SIMS reveal the bulk composition down to AlGaN/GaN heterostructure interface and variation of hydrogen amount.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2018
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.