Počet záznamů: 1  

MOVPE growth of InGaN/GaN MQW nitride scintillator structure

  1. 1.
    SYSNO ASEP0479290
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVO - Ostatní
    NázevMOVPE growth of InGaN/GaN MQW nitride scintillator structure
    Tvůrce(i) Hospodková, Alice (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Hubáček, Tomáš (FZU-D) ORCID
    Pangrác, Jiří (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Oswald, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
    Hývl, Matěj (FZU-D) ORCID
    Zíková, Markéta (FZU-D) RID
    Hulicius, Eduard (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Celkový počet autorů7
    Zdroj.dok.EWMOVPE 17 - 17th European Workshop on Metalorganic Vapour Phase Epitaxy. - Grenoble, 2017 / Eymery J.
    Rozsah strans. 114-117
    Poč.str.4 s.
    Forma vydáníOnline - E
    AkceEWMOVPE 17 - 17th European Workshop on Metalorganic Vapour Phase Epitaxy
    Datum konání18.06.2017 - 21.06.2017
    Místo konáníGrenoble
    ZeměFR - Francie
    Typ akceEUR
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.FR - Francie
    Klíč. slovaMOVPE ; nitrides ; scintillator ; quantum well
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Obor OECDCondensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    CEPGA16-11769S GA ČR - Grantová agentura ČR
    LO1603 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    AnotaceFast scintillators with decay time of few nanoseconds are necessary for scanning electron microscopes in inspection machines in electronic industry. Serious morphological problem of the InGaN/GaN MQWs is formation of V-pits. These V-pits originate in InGaN QWs and they are created due to dislocations. InGaN/GaN structures with a different number of QWs and different thickness of GaN covering layers were grown, measured by AFM and their photoluminescence (PL) properties were compared. V-pit size (depth and diameter) depends on the total thickness of InGaN layers and on the growth rate, not on the capping layer thickness. Fast exciton QW PL can be increased by the thickness of GaN capping layer, higher In content and lower growth rate of the capping layer.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2018
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.