Počet záznamů: 1
MOVPE growth of InGaN/GaN MQW nitride scintillator structure
- 1.
SYSNO ASEP 0479290 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV O - Ostatní Název MOVPE growth of InGaN/GaN MQW nitride scintillator structure Tvůrce(i) Hospodková, Alice (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Hubáček, Tomáš (FZU-D) ORCID
Pangrác, Jiří (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Oswald, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
Hývl, Matěj (FZU-D) ORCID
Zíková, Markéta (FZU-D) RID
Hulicius, Eduard (FZU-D) RID, ORCID, SAICelkový počet autorů 7 Zdroj.dok. EWMOVPE 17 - 17th European Workshop on Metalorganic Vapour Phase Epitaxy. - Grenoble, 2017 / Eymery J. Rozsah stran s. 114-117 Poč.str. 4 s. Forma vydání Online - E Akce EWMOVPE 17 - 17th European Workshop on Metalorganic Vapour Phase Epitaxy Datum konání 18.06.2017 - 21.06.2017 Místo konání Grenoble Země FR - Francie Typ akce EUR Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. FR - Francie Klíč. slova MOVPE ; nitrides ; scintillator ; quantum well Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus Obor OECD Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.) CEP GA16-11769S GA ČR - Grantová agentura ČR LO1603 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Anotace Fast scintillators with decay time of few nanoseconds are necessary for scanning electron microscopes in inspection machines in electronic industry. Serious morphological problem of the InGaN/GaN MQWs is formation of V-pits. These V-pits originate in InGaN QWs and they are created due to dislocations. InGaN/GaN structures with a different number of QWs and different thickness of GaN covering layers were grown, measured by AFM and their photoluminescence (PL) properties were compared. V-pit size (depth and diameter) depends on the total thickness of InGaN layers and on the growth rate, not on the capping layer thickness. Fast exciton QW PL can be increased by the thickness of GaN capping layer, higher In content and lower growth rate of the capping layer.
Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2018
Počet záznamů: 1