Počet záznamů: 1  

III/V-on-Si interfaces: optical in situ control, surface science and DFT

  1. 1.
    SYSNO ASEP0471513
    Druh ASEPA - Abstrakt
    Zařazení RIVO - Ostatní
    NázevIII/V-on-Si interfaces: optical in situ control, surface science and DFT
    Tvůrce(i) Supplie, O. (DE)
    Romanyuk, Olexandr (FZU-D) RID, ORCID
    May, M.M. (DE)
    Brückner, S. (DE)
    Susi, T. (AT)
    Paszuk, A. (DE)
    Koppka, C. (DE)
    Nägelein, A. (DE)
    Steidl, M. (DE)
    Zhao, W. (DE)
    Dobrich, A. (DE)
    Kleinschmidt, P. (DE)
    Hannappel, T. (DE)
    Zdroj.dok.31th DGKK Workshop Epitaxy of III/V Semiconductors. - Berlin : DGKK, 2016
    S. 14-14
    Poč.str.1 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    Akce31th DGKK Workshop Epitaxy of III/V Semiconductors
    Datum konání08.12.2016 - 09.12.2016
    Místo konáníDuisburg
    ZeměDE - Německo
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.DE - Německo
    Klíč. slovaGaP/Si ; MOVPE ; heterointerface
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    AnotacePseudomorphic virtual GaP/Si substrates are attractive for III/V-on-Si integration for microelectronics, photovoltaics, and water-splitting. The heterointerface is of particular interest since its atomic and electronic structure highly impacts crystal quality. Well-ordered interfaces are desirable but the formation of polar-on-nonpolar heterointerfaces is not yet fully understood. It is instructive to control each of the three steps (i) Si surface formation, (ii) III/V nucleation, and (iii) III/V layer growth individually in situ, which largely benefits from complementary surface science techniques as well as density functional theory (DFT). Here, we will highlight how such a combination enables specific metalorganic vapor phase (MOVPE) preparation of virtual substrates for both (100) and (111) orientation.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2017
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.