Počet záznamů: 1
On-the-fly fast X-ray tomography using a CdTe pixelated detector – application in mechanical testing
- 1.Kumpová, Ivana - Vopálenský, Michal - Fíla, Tomáš - Kytýř, Daniel - Vavřík, Daniel - Pichotka, Martin - Jakůbek, Jan - Keršner, Z. - Klon, J. - Seitl, S. - Sobek, J.
On-the-fly fast X-ray tomography using a CdTe pixelated detector – application in mechanical testing.
IEEE Transactions on Nuclear Science. Roč. 65, č. 12 (2018), s. 2870-2876. ISSN 0018-9499. E-ISSN 1558-1578
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 1.428, rok: 2018
https://ieeexplore.ieee.org/document/8482343
http://hdl.handle.net/11104/0288021
Počet záznamů: 1